Sigma 系列產(chǎn)品

用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

• 介紹  ；

• 將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

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• Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果

• 特點(diǎn)

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                                     用于清晰成像的靈活探測

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                                     自動化加速工作流程

  
  

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•                                     高級分析型顯微鏡

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• 利用先進(jìn)探測術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
  

• 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
  

• 利用新一代的二次探測器，獲取高達(dá)50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對比度的銳利的圖像。

• 利用先進(jìn)探測術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
  

• 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
  

• 利用新一代的二次探測器，獲取高達(dá)50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對比度的銳利的圖像。

• 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 一流的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。

• 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

• 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。

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• 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先，先對樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。

• 首先，先對樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。
  

• 接下來對樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的最后一步，將結(jié)果可視化。
  

• 利用先進(jìn)探測術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
  

• 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
  

• 利用新一代的二次探測器，獲取高達(dá)50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對比度的銳利的圖像。